Vyhodnoť tloušťku deponovaných vrstev pomocí AFM

SP2023Khalakhan2.png (338 KB)

Mikroskopie atomárních sil (AFM), založená na vyhodnocení síly působící mezi sondou a povrchem, umožňuje velmi přesně měřit tloušťku tenké vrstvy.

Pokud máte zájem o tuto práci, obraťte se na nás.

Vedoucí

Docent

	khalakhan@gmail.com
	22191-2321 95155-2321

Detail osoby

Studium, přednášky, zajímavosti a informace z oblasti nanomateriálů a vodíkových technologií.