Modifikace hrotu pro zobrazování nanostruktur v AFM s vysokým rozlišením

Mikroskopie atomárních sil (AFM) je univerzální a výkonný nástroj pro topografické zobrazování povrchů s rozlišením v nanometrech. Kvalita získaného obrazu je podmíněna přesností udržování polohy hrotu, přesností jeho pohybu a schopností detekce ohnutí. Pro pohybování hrotem se používají výhradně piezoelektrické skenery, které jsou schopny realizovat pohyby menší než desetina nanometru. Při zobrazování povrchu dochází často k problémům způsobeným blízkostí hrotu a vzorku, a to při silné vzájemné interakce, při zachycení či poškození hrotu, při jeho znečištění. Rovněž nenulová šířka hrotu vede k deformaci obrazu. Získaný obraz tedy velmi závisí na kvalitě použitého hrotu, která je omezena především geometrií hrotu sondy sloužící ke skenování povrchu. Jinými slovy, hrot, který je symetrický, dostečně dlouhý a ostřejší, v obraze přesněji reprodukuje zakřivení studovaného povrchu.

Navrhovaná diplomová práce bude zaměřena na modifikaci/funkcionalizaci komerčně dostupných hrotů pro AFM mikroobráběním fokusovaným iontovým svazkem (FIB) a depozicí materiálů pomocí systému napouštění plynných prekurzorů (GIS) v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM). Budou hledány vhodné pracovní podmínky a postupy, kombinace materiálů, parametrů jejich depozice elektronovým a iontovým svazkem. Připravené hroty budou použity pro studium nanomateriálů v AFM.